SPC控制圖-不合格品數控制圖（np圖）

np 控制圖用于監測工藝過程中的不合格品數的變化是否處于可控狀態，一般用于每批樣本數 n 固定不變的情況。由于受監測的不合格品數等于每批樣本大小 n 與不合格品率 p 的乘積 np ，因此不合格品數控制制圖也叫做 np 控制圖。

確定不合格品數控制圖的控制限采用 3σ 方法，不合格品數隨機變量 D 的均值 μD=np ，標準偏差

因此不合格品數控制圖（ np 圖）的中心線和上下限控制限為：

一般情況下并不知道總體分布的參數 p ，按照下面的方法對參數 p 進行估計。
設一共檢驗m批產品，每批產品包括的樣本數和不合格品數分別為 ni和Di（i=1,2,3...,m），則可以用下面的公式得到的值作為總體參數 p 的估計值。 SPC控制圖-不合格品數控制圖（np圖）

如果每批樣本量相同，均為 n ，則可以用每批產品的不合格品率 pi=Di/n（i=1,2,3...,m）的平均值作為參數 p 的估計值。 SPC控制圖-不合格品數控制圖（np圖）

因此，不合格品數控制圖的中心線和上下控制限為： SPC控制圖-不合格品數控制圖（np圖）

由于不合格品數不可能為負值，如果就算的下控制限 LCL 為負值，則取下控制限 LCL=0 。

下圖為應用太友QSmart SPC軟件自動生成的np控制圖：